L'examen porte sur l'étude de la durée nécessaire pour atteindre une hauteur opérationnelle avec une nacelle télescopique. Le sujet comporte trois parties, incluant la résolution d'équations différentielles, l'étude d'une fonction de hauteur nacelle et la conception d'un algorithme pour calculer la vitesse de la nacelle. Une quatrième partie traite la probabilité de durée de fonctionnement d'un composant électronique.